金属镀层测厚仪Thick880

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镀层测厚仪Thick880是实谱科技的核心产品之一，是利用x射线荧光技术解决镀层厚度分析的检测仪器。

优势和特点

*超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面

*易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果

*有助于识别镀层成分的创新型功能

*机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室

*按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的精确结果

*使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

*用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心

*Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享

*有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用

先进的技术

*独特的 Peltier 电制冷进口检测器

  *数字脉冲处理 (DPP) 技术

    *基本参数 (FP) 无标样分析方法

      *高性能、多元素分析

功能强大、易于使用的元素分析软件

无标和半无标分析

基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法

多层厚度及成分

不限元素、不限数量的标样

利用自动化操作实现多个激发条件

可应用于

*合金分析

*镀层厚度分析

*电镀液金属离子分析

*磁性介质和半导体元素分析

*土壤污染元素分析

*过滤器上的薄膜元素分析

*塑料中的有毒元素分析